試作テスト、修理等グループ内で行い、協力会社と連携を取りながらデバッグ、System Integration、量産テスト等に必要なノウハウを蓄えています Multi Chip Module Bare chip mounting Flexible circuit LTCC(Low Temperature Co-fired Ceramics) FIB(Forcused Ion Beam) machining Semiconductor parameter analyzer & Noise measurement system Wafer prober Wire bonder Microscope 1 2 Labview test system |